크리스털 테스트

크리스털 테스트는 크리스털 위의 모든 크리스털 입자를 바늘로 측정하여 전기 특성을 측정하는 것이다.테스트 시 크리스털은 탐지기의 트레이에 고정되고 탐지기는 칩의 모든 PAD점과 접촉하며 테스트기는 칩에 대해 전기와 기능 테스트를 하고 결과를 기록하여 양품과 불량품을 구분한다.12인치, 8인치, 6인치, 5인치와 4인치 트랜지스터 테스트 능력을 갖추고 17nm, 22nm, 28nm 등 선진 공정과 28nm 이상 트랜지스터의 모든 성숙 공정을 포함한다.지문 인식, 소방 안전, 블루투스, 전원 관리, MCU, 필터, 광통신 등 다양한 응용 유형을 테스트할 수 있다.

크리스털 테스트 프로세스:

테스트 장비: V93K, J750HD, D10, NI STS T4, S100, S50, STS8200, T862, TR6850S, TR6836S, Chroma3360D/3360P/3380, V50, TQT500, JC5600, SC312, T5503/5371, DST1000
탐침대: UF3000, UF200SA
크리스털 테스트 MAPPING 도분 BIN 정의 기능
옵티컬 칩, CMOS SENSOR 테스트 기능